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測(cè)量前，請(qǐng)仔細(xì)清除磁頭和測(cè)量點(diǎn)的油污和灰塵，以免影響測(cè)量結(jié)果。
使用 Mikrotest 6 型（自動(dòng)型）
如圖（1、2）所示，將Mikortest 麥考特G6測(cè)厚儀置于被測(cè)表面；將指輪（5）向前旋轉(zhuǎn)到滿刻度以上部位（對(duì)于Nife50 和Ni50 是向前推到0 位）。讓磁頭（3）吸附在被測(cè)表面；按下按鈕（9），指輪會(huì)自動(dòng)地順時(shí)針旋轉(zhuǎn)，直到磁頭跳起，刻度盤也隨之自動(dòng)停止轉(zhuǎn)動(dòng)，同時(shí)聽到“呵噠”一聲。
此時(shí)，刻度盤上的讀數(shù)即為所測(cè)量覆層的厚度值。
注意：推動(dòng)指輪時(shí)，不能觸動(dòng)按鈕（9）；指輪只能逆時(shí)針推動(dòng)，切勿順時(shí)針推動(dòng)。
在平面上測(cè)量
測(cè)量面方位對(duì)于測(cè)量沒(méi)有影響，注意技術(shù)數(shù)據(jù)表中所列的zui小測(cè)量范圍和基體的厚度。
在曲面上測(cè)量
測(cè)量圓柱或圓形邊緣時(shí)，可以利用儀器測(cè)嘴上的 V 型口，如圖（5）所示。測(cè)量凹面時(shí)與測(cè)量平面相同，但要注意zui小曲率的限制。
在粗糙表面測(cè)量
在粗糙表面測(cè)量時(shí)，讀數(shù)將增大（特別是在顆粒尖上）。在特別粗糙（如峰值超過(guò)50um 的鋼基體上，并且涂層厚度超過(guò)100um 時(shí)，實(shí)際讀數(shù)高于涂層真實(shí)厚度達(dá)20％之多。在這種情況下應(yīng)至少測(cè)量6 次以上，得出平均值。
檢查度
測(cè)厚儀裝有磁鋼，在正常使用時(shí)是不會(huì)發(fā)生變化的。通常只需偶爾或在懷疑讀數(shù)的正確性時(shí)去測(cè)量厚度標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)行調(diào)整。對(duì)于這種測(cè)量可采用EPK 公司的厚度標(biāo)準(zhǔn)件。
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