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測(cè)量原理：
表面處理層(涂層、鍍層)厚度的檢驗(yàn)方法分為非破環(huán)性檢驗(yàn)和破環(huán)性檢驗(yàn)兩種。非破壞性檢驗(yàn)有磁性法、渦流法、X射線(xiàn)熒光測(cè)量法、β射線(xiàn)反向散射法、光切顯微鏡法、能譜法等。破壞性檢驗(yàn)有點(diǎn)滴法、液流法、化學(xué)溶解法、電量法(庫(kù)侖法)、金相顯微鏡法、輪廓法、干涉顯微鏡法等。
磁性法是目前無(wú)損測(cè)量厚度應(yīng)用*廣泛的一種方法。磁性法又分為類(lèi)型，一種是測(cè)量永磁鐵和基體之間由于處理層存在而改變的磁吸力;另一種是測(cè)量通過(guò)處理層和基體金屬磁通路的磁阻。參考標(biāo)準(zhǔn)有ISO2178《磁性基體的非磁性覆蓋層鍍層厚度的測(cè)量》、ISO2361《磁性非磁性基體的鎳電鍍層鍍層厚度的測(cè)量磁性法》、ASTM A 499《磁性材料上非磁性鍍層用磁性測(cè)定厚度》、ASTMA 530
《磁性法測(cè)定磁性和非磁性基體.上電沉積鍍鎳層厚度》、GB4956 《磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量磁性法》。
渦流法是利用交流電磁場(chǎng)在被測(cè)導(dǎo)電物體中感應(yīng)產(chǎn)生的渦流效應(yīng)。其工作原.理是將內(nèi)有高頻電流線(xiàn)圈的探頭置于表面處理層上,在被測(cè)表面處理層內(nèi)產(chǎn)生高頻磁場(chǎng)，由此引起金屬內(nèi)部渦流，此渦流產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭內(nèi)線(xiàn)圈，令其阻抗變化。隨處理層的厚度變化，阻抗發(fā)生相應(yīng)改變。
一、磁性基體上非磁性涂鍍層的厚度檢測(cè)。
基體為鋼鐵等，涂層為油漆、塑料、搪瓷、鉻、鋅。便攜式檢測(cè)儀器采用磁性法原理。常見(jiàn)的有:
如：德國(guó)尼克斯QuaNix 1200涂層測(cè)厚儀
德國(guó)尼克斯QuaNix 1200涂層測(cè)厚儀/膜厚儀/鍍層測(cè)厚儀可用來(lái)測(cè)量鋼、鐵等鐵磁性(Fe)金屬基體上的非磁性涂鍍層的厚度，如油漆層、各種防腐涂層、涂料、粉末噴涂、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘等。可測(cè)量銅、鋁、不銹鋼等非鐵磁性(NFe) 基體.上的所有非導(dǎo)電層的厚度，如油漆層、各種防腐涂層、涂料、粉末噴涂、塑料、橡膠、合成材料、氧化層等。
二、有色金屬基體上絕緣層的厚度檢測(cè)
檢測(cè)基體為銅、鋁、奧氏體不銹鋼上的涂層，如陽(yáng)極氧化膜、油漆、涂料等的厚度，可采用下面的便攜式檢測(cè)儀器進(jìn)行檢測(cè)。
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