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SigmaScope SMP30電導率儀Fischer生產SigmaScope SMP30電導率儀Fischer生產 SMP350是可以測量任何非鐵磁性金屬的電導率的手持式儀器。 電導率提供關于金屬的其他材料性質的數(shù)據(jù)，如硬度，強度，熱損傷和材料疲勞。 它在廣泛的測量應用和領域是有效的。Sigmascope®SMP350系列由Fischer Technology制造，是一種電導率計，可快速簡便地測量非鐵磁性金屬。它符合DIN EN 2004-1和ASTM
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FischerScope MMS PC2孔銅銅厚測量儀FischerScope MMS PC2孔銅銅厚測量儀 菲希爾 Fischerscope MMS PC2多功能測量系統(tǒng)，菲希爾 Fischerscope MMS PC2多功能測量系統(tǒng)的模塊化設計，允許對儀器按客戶的要求進行配備，并可以在需要的時候配備其它的模塊和探頭進行升級改進。根據(jù)需求可以在儀器上采用不同的測量方法
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供應FeritScope DMP30鐵素體儀供應FeritScope DMP30鐵素體儀 在奧氏體或雙相鋼必須承受高溫、侵蝕性物質以及高壓的情況下，鐵素體含量至關重要。特別是涉及到化工廠、能源設施及工廠中的現(xiàn)場測量時，F(xiàn)ISCHER 手持式設備的優(yōu)勢將非常顯著。為 FERITSCOPE DMP30 提供多種探頭，通過這些探頭，即使在難以觸及的區(qū)域中也能夠可靠地測定鐵素體的含量。
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Couloscope CMS2 STEP庫侖法多鍍層測厚儀Couloscope CMS2 STEP庫侖法多鍍層測厚儀 COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度，庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。
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DualScope DMP40涂層測厚儀DualScope DMP40涂層測厚儀 DUALSCOPE DMP40涂層測厚儀是一款操作簡便的鍍層厚度測量和靈活的數(shù)據(jù)采集設備。DUALSCOPE FMP40膜厚儀存儲容量多達1,000數(shù)據(jù)組的10,000個測量數(shù)據(jù)，帶動態(tài)存儲分配能力。100個測量應用的內存可用于存儲校準和相關的測量數(shù)據(jù)。
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Couloscope CMS2 STEP庫侖測厚儀Couloscope CMS2 STEP庫侖測厚儀 很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 cms2 簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層 提供了的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內， 很多 材料不需要預設定；基材組成和幾何形狀對于測量都是無關緊要的
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PhaScope PMP10 Duplex雙鍍層測厚儀PhaScope PMP10 Duplex雙鍍層測厚儀 菲希爾PhaScope PMP10 Duplex雙層涂層厚度測量儀,同時測量鋅和油漆或鋁和油漆,探頭ESG20的測量法符合DIN EN ISO 21968標準（相位敏感電渦流法）
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