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elektrophysik測厚儀MiniTest740
為了質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的靈活性，MiniTest740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭，方便測量難以到達(dá)的部位。SIDSP探頭具有*的抗干擾性、SIDSP－測量信號高穩(wěn)定性、預(yù)設(shè)選項(xiàng)節(jié)省您的時(shí)間和金錢、SIDSP探頭對溫度變化不敏感、SIDSP探頭適應(yīng)性強(qiáng)、SIDSP N和FN型探頭基體導(dǎo)電性補(bǔ)償。
elektrophysik測厚儀MiniTest740主機(jī)參數(shù)
| MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
探頭類型 | 內(nèi)置 | 外置 | 內(nèi)置外置可換 |
數(shù)據(jù)記憶組數(shù) | 10 | 10 | 100 |
存儲數(shù)據(jù)量 | zui多10,000個(gè) | zui多10,000個(gè) | zui多100,000個(gè) |
統(tǒng)計(jì)值 | 讀值個(gè)數(shù)，zui小值，zui大值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置） | ||
校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 | ISO，SSPC，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) | ||
校準(zhǔn)模式 | 出廠設(shè)置校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)，3點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值 | ||
極限值監(jiān)控 | 聲、光報(bào)警提示超過極限 | ||
測量單位 | um，mm，cm；mils，inch，thou | ||
操作溫度 | -10℃-60℃ | ||
存放溫度 | -20℃-70℃ | ||
數(shù)據(jù)接口 | IrDA 1.0（紅外接口） | ||
電源 | 2節(jié)AA電池 | ||
標(biāo)準(zhǔn) | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 | ||
體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 約175g | 約210g | 約175g（內(nèi)置）/230g（外置） |
MiniTest740主特點(diǎn)
--創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理）技術(shù)提升了測量的性
－測量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用
－FN探頭自動(dòng)識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯(cuò)
篤摯儀器（上海）有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè)，用于評價(jià)材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能，推動(dòng)著精良制造技術(shù)的精益求精。
