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MiniTest7400測(cè)厚儀EPK授權(quán)上海總代理

電池安裝和傳感器連接

概述

MiniTest7400系列提供了許多的校準(zhǔn)方法以滿足各種應(yīng)用程序和工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的個(gè)性化需求。如果批處理已建立，您可以根每批選擇一個(gè)合適的校準(zhǔn)方法。對(duì)于小物件和小幾何的物件，推薦使用外部傳感器與高精度支架。初次使用時(shí)需要設(shè)置語(yǔ)言。大屏幕背光顯示屏便于讀數(shù)測(cè)量值，統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示趨勢(shì)圖和直方圖，堅(jiān)固防刮的塑料外殼。大屏幕上帶有幫助功能鍵，可調(diào)用上下文，已解決在線幫助。分層結(jié)構(gòu)菜單，數(shù)據(jù)以批集中處理。

MiniTest7400的內(nèi)存分為500批，可存儲(chǔ)250000個(gè)讀數(shù)。讀數(shù)超過(guò)限制將設(shè)置一個(gè)聲音或視覺(jué)報(bào)警并被標(biāo)記在相應(yīng)的統(tǒng)計(jì)中。所有傳感器系統(tǒng)的彈性安裝以確保探頭不傾斜以安全的壓力接觸測(cè)量物體。根據(jù)傳感器類型彈簧分為外部或內(nèi)部安裝，傳感器的V形槽可確保傳感器在圓柱形物體上正確定位。在掃描模式中，只要傳感器被放在測(cè)量對(duì)象上，就能連續(xù)顯示讀數(shù)。按OK 鍵存儲(chǔ)當(dāng)前顯示讀數(shù)并納入統(tǒng)計(jì)。

配備眾多的接口，MiniTest 7400可以連接各種外接設(shè)備。紅外接口(IrDA®1.0)可作為標(biāo)準(zhǔn)配置。一個(gè)多用接線盒可用來(lái)作為一個(gè)USB接口連接各種設(shè)備，如外借電源、耳機(jī)、腳踏開關(guān)或警報(bào)器。對(duì)于單個(gè)裝置連接，則可選擇RS 232和USB連接線以及IrDA®//USB接口轉(zhuǎn)換器

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校準(zhǔn)方法

1、出廠校準(zhǔn)

2、手動(dòng)校準(zhǔn)方法

  零點(diǎn)校準(zhǔn)

  多點(diǎn)校準(zhǔn)（零位+1到4個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)）

為了滿足應(yīng)用程序的要求，MiniTest 7400可多達(dá)5個(gè)點(diǎn)的校準(zhǔn)，由于預(yù)定義的校準(zhǔn)和操作方法，儀器支持ISO 19840；SSPC;瑞典；澳大利亞；PSPC 等應(yīng)用規(guī)范，并可進(jìn)行粗糙表面的測(cè)量。

3、預(yù)設(shè)校準(zhǔn)和操作方法

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特點(diǎn)

◆良好的SIDSP傳感器技術(shù)

◆*的精度和重復(fù)性

◆高精度耐磨傳感器，經(jīng)得起常年粗糙表面使用

◆測(cè)量范圍廣既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)

◆并提供50個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)，用于校正即使是zui小的偏差此外，

◆溫度補(bǔ)償編碼，以自動(dòng)校正溫度對(duì)讀數(shù)的影響。
◆圖形界面操作，提供類似于PC的幫助功能：

◆特定于上下文的幫助，文件夾結(jié)構(gòu)中的讀數(shù)歸檔以及帶符號(hào)和文本顯示的菜單導(dǎo)航。

◆4種語(yǔ)言的用戶指南

◆涂層厚度測(cè)量可達(dá)15 mm，更換探頭測(cè)量厚度可達(dá)35mm

SIDSP®明顯優(yōu)勢(shì)

 模擬信號(hào)處理時(shí)代已成過(guò)去，數(shù)字信號(hào)處理將成為未來(lái)的趨勢(shì)。

EPK此項(xiàng)探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理新技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。高精度，高重現(xiàn)性，對(duì)溫度變化不敏感，適應(yīng)性強(qiáng)，這些都是SIDSP®的主要特點(diǎn)。創(chuàng)新的生產(chǎn)技術(shù)結(jié)合自動(dòng)化校準(zhǔn)過(guò)程，而且每個(gè)探頭可獨(dú)立校準(zhǔn)，從而生產(chǎn)出高質(zhì)量7400的探頭。

這主要源于充分利用了SIDSP技術(shù)賦予的優(yōu)勢(shì)。的精密生產(chǎn)過(guò)程使得每個(gè)探頭都如出一轍的優(yōu)質(zhì)。

篤摯儀器（上海）有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有：

==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x；
==>>量博LAB GAGES 全自動(dòng)零件清潔度檢測(cè)系統(tǒng)；
==>>捷克吉爾-斯派克 GearSpect 齒輪嚙合儀、齒輪檢測(cè)中心；
==>>?？怂箍等鴺?biāo)、ROMER關(guān)節(jié)臂測(cè)量機(jī)；
==>>瑞士TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、測(cè)長(zhǎng)機(jī)；
==>>德國(guó)Fraunhofer－IZFP無(wú)損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無(wú)損測(cè)量系統(tǒng)；
==>>德國(guó)斯派克SPECTRO直讀光譜儀、德國(guó)布魯克Bruker火花光譜儀；
==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀；
==>>德國(guó)EPK手持式涂覆層測(cè)厚儀；
==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器；
==>>英國(guó)施泰力Starrett光學(xué)投影儀；
==>>量博LAB全自動(dòng)顯微硬度測(cè)試系統(tǒng)、布洛維硬度機(jī)、布氏硬度計(jì)、洛氏硬度計(jì)、維氏硬度計(jì)；
==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀；
==>>量博工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡、金相制樣設(shè)備；
==>>美國(guó)雷泰Raynger紅外測(cè)溫儀；
==>>美國(guó)OGP多傳感影像測(cè)量?jī)x；