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小型便攜式測(cè)厚儀Minitest4100
小型便攜式測(cè)厚儀Minitest4100是一種便攜式精密涂層測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋁、銅、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如：銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。
技術(shù)數(shù)據(jù)
- 所有探頭都可以連接，包括F型、N型FN兩用型。
- RS 232接口用于便攜式數(shù)據(jù)打印機(jī)MiniPrint 4100或PC
- 用一個(gè)或兩個(gè)箔校準(zhǔn)
- MiniTest4100擁有10,000個(gè)讀數(shù)的總內(nèi)存容量和存儲(chǔ)讀數(shù)的可能性
- 10個(gè)應(yīng)用程序內(nèi)存，每個(gè)10個(gè)批次。 執(zhí)行校準(zhǔn)保留在應(yīng)用程序內(nèi)存中。
- 測(cè)量系列的統(tǒng)計(jì)評(píng)估允許用戶評(píng)估涂層的平均值，zui大值，zui小值，標(biāo)準(zhǔn)偏差和在一個(gè)測(cè)量系列
MiniTest內(nèi)存容量 |
應(yīng)用程序內(nèi)存數(shù)量99 |
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算，并可設(shè)寬容度極限值99 |
具有單個(gè)值記憶的批次數(shù)量100 |
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)500 |
單個(gè)讀數(shù)的總內(nèi)存容量10,000 |
統(tǒng)計(jì) |
從單值：x-，σ，k var，n，max。，min。 |
從單值：x-，σ，k var，n，max。，min。，CP，CPK |
塊統(tǒng)計(jì)：x =，σ，k var，n，max。，min。 |
塊統(tǒng)計(jì)：x =，σ，k var，n，max。，min。，CP，CPK |
從同一應(yīng)用程序（APPL）中的所有子組（BATCH） |
分別將值和統(tǒng)計(jì)打印到APPL-BATCH組 |
顯示和打印輸出和測(cè)量時(shí)的日期和時(shí)間（年，月，日，小時(shí)，分鐘） |
校準(zhǔn)方法 |
通過(guò)涂層校準(zhǔn)（CTC） |
粗糙表面測(cè)量。幾乎可以消除粗糙度的影響 |
OFFSET函數(shù)添加或減少常量值 |
外部功能（觸發(fā)）將讀數(shù)傳送到存儲(chǔ)器 |
鍵鎖定以保護(hù)校準(zhǔn) |
電池更換期間保存讀數(shù) |
限制設(shè)置 |
測(cè)量單位為微米或密耳 |
具有高速讀數(shù)的連續(xù)測(cè)量模式，用于識(shí)別zui小值和zui大值 |
在連續(xù)模式下可選擇穩(wěn)定程序以便快速顯示（7個(gè)讀數(shù)/秒） |
具有浮點(diǎn)或固定小數(shù)點(diǎn)的數(shù)據(jù)傳輸 |
沒(méi)有連接探頭的情況下讀取測(cè)量值 |
稍后打印一個(gè)批次的單個(gè)值 |
連續(xù)模式下的zui小值顯示 |
自1948年德國(guó)Steingoever博士發(fā)明*臺(tái)利用磁吸力原理的測(cè)厚儀以來(lái)，德國(guó)EPK公司一直是表面科技的*之一、是無(wú)損涂層厚度測(cè)量的。 ElektroPhysik公司(簡(jiǎn)稱EPK)總部位于德國(guó)科隆，是生產(chǎn)表面檢測(cè)儀器的，有超過(guò)60年的市場(chǎng)經(jīng)驗(yàn)，研發(fā)和生產(chǎn)了品種繁多的的測(cè)量?jī)x器。質(zhì)量是EPK的主要目標(biāo)，EPK從研發(fā)到使用、維修各個(gè)環(huán)節(jié)，都符合ISO 9001：2000質(zhì)量體系，始終為每一個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域提供適合的產(chǎn)品。
EPK在不斷開(kāi)發(fā)和創(chuàng)新科技產(chǎn)品過(guò)程中，贏得了良好的聲譽(yù)。作為無(wú)損檢測(cè)厚度行業(yè)的*，EPK與國(guó)內(nèi)的研究所和大學(xué)合作，實(shí)現(xiàn)了涂層厚度測(cè)量的成功發(fā)展和標(biāo)準(zhǔn)化。將來(lái)，EPK將全力發(fā)展自己的產(chǎn)品以符合zui高技術(shù)要求。
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